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画像処理と光干渉計測

このページでは、私の研究内容を紹介します。

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トピックス

[講演] 以下の講義をしました。NEW
  • 「目視検査自動化のための画像処理技術の基礎と効果的な応用・事例」(2017/01/13;日本テクノセンター)
[講演] 以下の講演をしました
  • 北川克一,溝尻 旬:「波長シフト干渉法による透明板の形状測定」、光計測シンポジウム2016(2016/10/28;機械振興会館)
[学会発表] 以下の発表をしました。
  • 北川克一,溝尻 旬:「波長シフト干渉法による透明板の表面形状と板厚分布の同時測定」,精密工学会秋期大会 (2016/9;茨城大学).
[学会発表] 以下の発表をしました
  • 「3波長光干渉法の開発(第1報) ―薄膜干渉色解析による較正レスの油膜厚さ分布測定―」,トライボロジー会議2016(2016/05/23;国立オリンピック記念青少年総合センター)

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[講演] 以下の講義をしました。
  • 「目視検査自動化のための効果的な画像処理技術とその応用」(2016/04/01;日本テクノセンター)
[学会発表] 以下の発表をしました。
  • 北川克一,大槻真左文:「干渉色画像解析による多層膜の膜厚分布測定」,精密工学会春季大会 (2016/3;東京理科大学)
  • 北川克一,溝尻 旬:「マッハ・ツェンダー干渉計とモデル適合法による光ファイバ屈折率分布測定」,精密工学会春季大会 (2016/3;東京理科大学).
[学会発表] 以下の発表をしました。
  • Masafumi Otsuki and Katsuichi Kitagawa, "Thickness Profiler by Three Wavelength Interference Color Analysis," International Tribology Conference, 996-997 (Sept. 2015; Tokyo).
[講演] 以下の講演をしました
  • 北川克一,溝尻 旬:「波長走査干渉法による透明板の形状測定」、光計測シンポジウム2015(2015/9/17;東京ビッグサイト)
[学会発表] 以下の発表をしました。
  • 北川克一、溝尻旬:「波長走査干渉法による透明板の表面形状と板厚分布の同時測定」、精密工学会秋期大会(2015/9/6;東北大学)
  • 北川克一、大槻真左文:「干渉色画像解析による半透明膜の膜厚分布測定」、精密工学会秋期大会(2015/9/6;東北大学)
[新刊] 以下の書籍が出版されました。
  • Katsuichi Kitagawa: Chapter 29 Film surface and thickness profilometry, in "Handbook of Optical Metrology -Principles and Applications-, Second Edition", Edited by Toru Yoshizawa, CRC Press (2015).
[論文掲載] 以下の論文が掲載されました。
  • Tomoya Sakai, Masashi Sugiyama, Katsuichi Kitagawa, Kazuyoshi Suzuki: "Registration of infrared transmission images using squared-loss mutual information," Precision Engineering, Vol. 39, 187-193 (January 2015).
[講演] 以下の講演をしました。
  • 特別講演 「画像処理による目視検査自動化の30年を振り返って」,情報処理学会 第157回GCAD・第194回CVIM合同研究発表会、 (2014.11.20; 早稲田大学)
[論文掲載] 以下の論文が掲載されました。
  • Katsuichi Kitagawa, "Surface and thickness profile measurement of a transparent film by three-wavelength vertical scanning interferometry," Opt. Lett. 39, 4172-4175 (2014) Abstract
[論文掲載] 以下の論文が掲載されました。
  • Yoshinori Iketaki, Katsuichi Kitagawa, Kohjiro Hidaka, Naoki Kato, Akira Hirabayashi and Nandor Bokor: "Fabrication of optical multilayer for two-color phase plate in super-resolution microscope", Rev. Sci. Instrum., 85, 073701 (2014) Online
[学会発表] 以下の発表をしました。
  • Katsuichi Kitagawa: "Surface and thickness measurement of a transparent film using three-wavelength interferometry", Proceedings of the 14th euspen International Conference, pp. 189-192 (Dubrovnik; June 2014)
[論文掲載] 以下の論文が掲載されました。
  • 北川克一 「3波長ワンショット干渉計測における最適波長選択と測定レンジ拡大」,計測自動制御学会論文集、50(4), 335-341 (2014) Abstract
[受賞] 精密工学会論文賞を2年連続受賞しました。
  • 2013年度精密工学会沼田記念論文賞を受賞しました。授賞式は、3月19日に、東京大学で開催された2014年度精密工学会春季大会学術講演会において行われました。
    受賞論文は、北川克一, 大槻真左文:「干渉色画像解析による透明膜の広視野膜厚分布測定装置の開発」, 精密工学会誌, 79 (11), 1078-1082 (2013)
    学会賞ページ
[講演] 以下の講演をしました。
  • キーノートスピーチ「産業用光干渉計測技術開発の20年を振り返って」,精密工学会2014年度精密工学会春季大会学術講演会、 (2014.3.19; 東京大学)
[講演] 以下の講演発表をしました。
  • 「3波長干渉法による透明膜の表面形状と膜厚分布の同時測定」,ViEW (Vision Engineering Workshop) (12/5(木) 11:40-12:00; パシフィコ横浜)
[動画掲載] 膜厚分布測定装置 TPシリーズのページに、シャボン膜のリアルタイム膜厚測定動画を掲載しました。

[講演] 以下の講演発表をしました。
  • 「3波長干渉色解析法による膜厚測定の感度解析」,精密工学会2013年秋季大会学術講演会、H02 (2013.9.12; 関西大学)
[受賞] 計測自動制御学会 CPDポイント高得点者賞を受賞しました。表彰式は、SICE Annual Conference 2013(名古屋大学)で行われました。


[記事掲載] 膜厚分布測定に関する下記論文が、The Optical Society of America (OSA) から優秀論文に選ばれ、Optics InfoBaseの Spotlight on Opticsページで紹介されました。 また、原論文は無料公開(Open Access)になりました。
過去のトピックス 98/7-13/03
 
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