| 氏名：北川克一 職業：技術コンサルタント[お気軽に、メールでお問い合わせ下さい（このページの一番下にメールアドレスがあります）]
出身：北海道
最終学歴：東京大学 工学部
計数工学科卒
学位：東京大学情報理工学博士（論文博士；2011年取得）
参考サイト： 博士への遠く長い道のり
～民間企業エンジニアの論文博士号取得まで～
資格：
- 計測制御エンジニア（計測自動制御学会認定）
- 英検1級（1971年）
- TOEIC 905点
専門：計測（画像処理応用、光干渉計測）
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職歴：
- 2014- 技術コンサルタント
- 2000-2013 東レエンジニアリング（株）
- 1964-2000 東レ（株）
特別講義歴：
- 2008 富山県立大学 工学部
- 2004 東京大学 計数工学科
主な表彰歴：
- 精密工学会沼田記念論文賞（2013年度）
- 精密工学会論文賞（2012年度）
- 計測自動制御学会2012年度CPDポイント高得点者賞
- 精密工学会技術賞（2011年度）
- 計測自動制御学会2011年度CPDポイント高得点者賞
- 手島記念財団発明賞(2004年)
- ViEW（ビジョン技術の実利用ワークショップ）2003にて小田原賞（最優秀論文賞）
- 計測自動制御学会技術賞（2001年度）
主な著書：
- K. Kitagawa（分担執筆）: Chapter 29 - Film
surface and thickness profilometry, in
"Handbook of Optical Metrology - Principles
and Applications -", Edited by Toru
Yoshizawa, 677-690, CRC Press (2009)
- 北川克一（分担執筆）：12.4節
イメージング技術，「次世代センサハンドブック」
510-522，培風館 (2008)
- 北川克一（分担執筆）：5.4節
光干渉法による表面形状計測の現状と展望，「フィルム・ガラスの表面処理技術とその評価・分析」,
212-219, 情報機構 (2007)
- 北川克一（分担執筆）：第7章
干渉編，「光学実務資料集」, 119-132，情報機構
(2006)
- 北川克一（分担執筆）：5.2節
顕微鏡による三次元計測-光干渉法-，「最新
光三次元計測」（吉澤徹 編著）,
66-73, 朝倉書店 (2006)
- 北川克一（分担執筆）：「光技術総合事典」，オプトロニクス社
(2004)
- 北川克一（分担執筆）：TAB検査装置，「マルチチップ実装技術」，193-205，トリケップス
(1991)
- 北川克一（分担執筆）：第17章
高分子化学工業，小野木 重治
ほか編「化学計測ハンドブック」，470-489，朝倉書店
(1974)
- 北川克一（共訳，編集）：P. S. Buckley
(原著)「化学プロセス制御―その理論と実際」，化学同人
(1970)
主な国際会議講演：
- Surface and thickness measurement
of a transparent film using three-wavelength
interferometry, the 14th euspen International
Conference, Dubrovnik, Croatia (2014)
- Transparent film thickness measurement by
three-wavelength interference method: An extended
application of Global Model Fitting algorithm,
第9回日仏メカトロニクス会議; Paris
(2012)
- Multi-wavelength single-shot interferometry
without carrier fringe introduction, 10th
International Conference on Quality Control by
Artificial Vision (QCAV2011), Saint-Etienne,
France (2011)
- [Invited Talk] Recent trends in super-precision
3D measurement technology - Innovative algorithms
for optical interferometry and their
applications-, FCV 2009 (15th Japan-Korea Joint
Workshop on Frontiers of Computer Vision),
Andong, Korea (2009)
- Multi-wavelength single-shot interferometry, Int.
Symposium on Optomechatronic Technologies (ISOT
2009), Istanbul (2009)
- [Invited] Thin film thickness profile measurement
using an interferometric surface profiler, ISOT
2007 (International Symposium on Optomechatronic
Technologies), Lausanne, Switzerland (2007)
- [Invited] Simultaneous measurement of film
surface topography and thickness variation using
white-light interferometry, Optics East 2006,
Boston, USA (2006)
- [Invited] Recent advances in white-light
interferometry - Speed improvement and
transparent film profiling -, OSA Optical
Fabrication and Testing(OFT) 2006, Rochester, USA
(2006)
- [Invited] Recent trends in white light
interferometry, Optics East 2006, Boston, USA
(2006).
- New particle counter using spatial filtering
technique, Display Manufacturing Technology
Conference, San Jose, USA, 105-108 (1999)
- Continuous measurement of the quality of textured
filament yarns, 18th International Man-Made Fiber
Conference, Dornbirn, Austria (1979)
主な論文：
- 北川克一、溝尻
旬：「任意波長シフト干渉法による透明板の表面形状と厚さ変動の同時測定」、光学、47(4)
165-173 (2018)
- Katsuichi
Kitagawa, "Surface and thickness profile
measurement of a transparent film by
three-wavelength vertical scanning
interferometry", Optics
Letters 39, 4172-4175 (2014) Abstract
- 北川克一： 「3波長ワンショット干渉計測における最適波長選択と測定レンジ拡大」，計測自動制御学会論文集、Vol.50、No.4
(2014年4月) Abstract
- Katsuichi Kitagawa:
"Thin-film thickness profile measurement by
three wavelength interference color
analysis", Applied Optics, Vol. 52, Iss. 10,
pp. 1998-2007 (2013) Abstract pdf (Open Access) 【A
paper selected for Spotlight on Optics of OSA in
May 2013】
- 北川克一，
大槻真左文：「干渉色画像解析による透明膜の広視野膜厚分布測定装置の開発」,
精密工学会誌, 79 (11), 1078-1082 (2013) 【精密工学会 2013年度論文賞受賞】
- 北川克一，杉原洋樹，坪井辰彦，鈴木一嘉，大槻真左文：「３波長ワンショット干渉計測によるインクジェット方式カラーフィルタの膜厚測定」,
精密工学会誌, 78 (1), 86-91 (2012) jstage（pdf）
【精密工学会
2012年度論文賞受賞】
- Katsuichi Kitagawa,
"Single-shot surface profiling by
multiwavelength interferometry without carrier
fringe introduction", J. Electron. Imaging
21, 021107 (May 10, 2012)
- Katsuichi Kitagawa: "Fast
Surface Profiling by Multi-Wavelength Single-Shot
Interferometry", International Journal of
Optomechatronics, 4(2) 136-156 (2010) Abstract
- 北川克一：「３波長干渉計測のためのクロストーク補正」、計測自動制御学会産業論文集,
vol. 8 (14), pp.113/116 (2009) pdf
- 北川克一：「位相勾配検出による干渉縞画像の２次元周波数推定」、計測自動制御学会産業論文集,
vol. 8 (13), pp.108/112 (2009) pdf
- 北川克一, 杉山将,
松坂拓哉,小川英光, 鈴木一嘉:「２波長ワンショット干渉計測」、精密工学会誌,
vol.75, No.2. 273-277 (2009) jstage（pdf）
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自己紹介
