最終更新日:14/11/13
干渉計測技術:測定例
3Dミュージアム
3D Museum by SP-500/700 & MW-500 Surface Profiler and TP-10 Thickness Profiler
目次
MW-500 |
8um 標準段差 | カラーフィルタ | ICの反り | |
SP-500 | ||||
SP-700 | ||||
バンプ |
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フィルム基板 |
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TP-10 |
膜厚分布測定装置TPのページ |
青枠画像は、クリックで拡大画像が表示されます。
MW-500 (ワンショット表面形状測定装置)
SP-500/700 (表面形状測定装置)
基板パターン |
VSI法 |
視野:0.2mm 高さ:10um |
基板粗さ |
VSI法 |
視野:0.3um 粗さ:<1um |
ICチップの反り |
VSI法 |
長さ:18mm 高さ:20um |
ICチップの反り | VSI法 | 長さ:8mm 高さ:2um |
SP-700 (透明膜対応 表面形状測定装置)
MEMS | |||||||||
視野:0.8mm | 表面 |
裏面 | 膜厚(4um-8um) |
LCD カラーフィルタ |
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KF法 |
表面 |
LCD セルギャップ |
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KF法 |
膜厚 |
研磨時間 | 0 sec | 20 sec | 60 sec | ||||||
表面 | |||||||||
段差:300nm | 段差:43nm | 段差:16nm | |||||||
裏面 (膜下面) |
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段差:290nm | 段差:290nm | 段差:290nm | |||||||
膜厚 | |||||||||
膜厚:1216/1206nm | 膜厚:709/956nm | 膜厚:466/740nm | |||||||
説明図 |
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